Le programme

2 jours de conférences en accès libre

23 conférences animées par les experts d'ARMIR, CAP'TRONIC, CFM, ELYZEE CONSORTIUM, LCIE BUREAU VERITAS, MIM, Opticsvalley, Revue ELECTRONIQUES et proposées par les exposants ALLIED VISION TECHNOLOGIES, EUROTHERM AUTOMATION, FARO, HBM et NATIONAL INSTRUMENTS

L’accès aux conférences est gratuit sur présentation de votre badge.
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MARDI 23 OCTOBRE

Dans la limite des places disponibles sur place. Nous vous conseillons de vous rendre devant la salle 15 minutes avant le début de la conférence.

23 OCT

Salle 1

9h30

LTE-M, NB-IOT, 5G : différences, mise en oeuvre et principaux cas d'usages
Animée par CAP’TRONIC

Les déploiements, actuels et futurs, des réseaux LTE-M, NB-IOT, 5G au niveau mondial semblent offrir de nouvelles perspectives dans les domaines de l’industrie du futur, de l’automobile connectée, de l’environnement, de l’e-santé, de l’agriculture et autres secteurs. Au cours de cette conférence, les participants pourront comprendre les principales caractéristiques et limitations des technologies mentionnées et en comprendre leurs mises en œuvre dans de nouveaux projets.
Stéphanie RICHÉ, Responsable partenariats au département systèmes, CEA leti
Grégoire de CHANGY, IoT marketing manager, ORANGE
Thibault CANTEGREL, Directeur Programme Développeur, SIERRA WIRELESS

14h00

Table ronde  « Nouvelles technologies de la vision industrielle et de son rôle dans l'industrie du futur » de la revue Electroniques  Animée par Pascal COUTANCE

15h00

Du capteur au Cloud : une nouvelle ère pour l’industrie de demain, un véritable potentiel Atelier exposant HBM
Sönke TREINIES, HBM (Conférence en anglais)

 23 OCT

Salle 2

10h00

Journée "Contrôle, qualité et lutte anti contrefaçon" Animée par ARMIR / CAP'TRONIC

10h00

Panorama général de la lutte anti-contrefaçon
David SAUSSINAN, Responsable juridique et affaires publiques, UNIFAB

10h45

Analyse de contrefaçon pharmaceutiques par technologie THz
B. FISCHER, ISL

11h30

La photonique pour la mobilité autonome
Dr Eneka IDIART BARSOUM

 14h15

Analyse vidéo des marques de sécurité
Romain LE BLOA, FOSTER & FREEMAN

 15h00

THID : une technique nouvelle THz pour l’identification des produits
Frédéric GARET, IMEP-LAHC

 23 OCT

Salle 3

9h00

Industry 4.0: Deep Tech pour le Smart Manufacturing Animée par OPTICS VALLEY
Ce séminaire passera en revue les problématiques actuelles des environnements de production et d’explorer les perspectives ouvertes par les Deep Tech à travers deux axes d’analyse : les matériaux et les procédés avancés de fabrication et respectivement et le contrôle qualité temps-réel en ligne de production. Inscription et tarifs

14h00

Optimisation des périodicités d’étalonnage Animée par CFM
Quizz : Etalonnage et vérification : quelle différence
La gestion des équipements de mesure ne se résume pas à la maîtrise de fiches de vie qui retracent leur historique. Il convient de réfléchir plus largement en ayant une vision processus : étalonnage, vérification, incertitudes de mesure, surveillance de processus et bien sûr gestion dynamique des périodicités d’étalonnage.
Bernard LARQUIER, Directeur, BEA METROLOGIE

15h00

La métrologie au service de l´industrie du futur Atelier exposant FARO


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