Le programme

2 jours de conférences en accès libre

23 conférences animées par les experts d'ARMIR, CAP'TRONIC, CFM, ELYZEE CONSORTIUM, LCIE BUREAU VERITAS, MIM, Opticsvalley, Revue ELECTRONIQUES et proposées par les exposants ALLIED VISION TECHNOLOGIES, EUROTHERM AUTOMATION, FARO, HBM et NATIONAL INSTRUMENTS

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MARDI 23 OCTOBRE - MERCREDI 24 OCTOBRE
Le programme complet

Zoom sur INTELLIGENCE ARTIFICIELLE // LTE-M, NB-IOT, 5G //
METROLOGIE DU FUTUR / INCERTITUDE ET INSTRUMENT DE MESURE / MESURE 3D / FABRICATION ADDITIVE // VEHICULE AUTONOME //  CONTROLE, QUALITE ET LUTTE ANTI CONTREFAÇON // DEEP TECH FOR SMART MANUFACTURING //

MARDI 23 OCTOBRE

Dans la limite des places disponibles sur place. Nous vous conseillons de vous rendre devant la salle 15 minutes avant le début de la conférence.

23 OCT

Salle 1

9h30

LTE-M, NB-IOT, 5G : différences, mise en oeuvre et principaux cas d'usages
Animée par CAP’TRONIC

Les déploiements, actuels et futurs, des réseaux LTE-M, NB-IOT, 5G au niveau mondial semblent offrir de nouvelles perspectives dans les domaines de l’industrie du futur, de l’automobile connectée, de l’environnement, de l’e-santé, de l’agriculture et autres secteurs. Au cours de cette conférence, les participants pourront comprendre les principales caractéristiques et limitations des technologies mentionnées et en comprendre leurs mises en œuvre dans de nouveaux projets.
Stéphanie RICHÉ, Responsable partenariats au département systèmes, CEA leti
Grégoire de CHANGY, IoT marketing manager, ORANGE
Thibault CANTEGREL, Directeur Programme Développeur, SIERRA WIRELESS

14h00

Table ronde  « Nouvelles technologies de la vision industrielle et son rôle dans l'industrie du futur » de la revue Electroniques 
Vision 3D, vision hyperspectrale, vision haute résolution et haute vitesse, intelligence embarquée, etc. Depuis quelques années, la vision industrielle a connu de grandes avancées technologiques au point de devenir l'un des principaux maillons de l'industrie du futur. En s’appuyant sur des retours d’expérience dans divers domaines, notre panel d’experts dressera un état des lieux du secteur.
Animée par Pascal COUTANCE, Directeur des rédactions Electroniques et Mesures
Arnaud DESTRUELS, European Marketing Manager, SONY EUROPE (division Image Sensing Solution)
Philippe BERGER, Director of Business Development IA, PROPHESEE
Abel GAGNE, Cognex (Présence à confirmer)
Damien LEGRAND, Vision Systems Project Leader, Marketing & Technical Dept, IFM

15h00

Du capteur au Cloud : une nouvelle ère pour l’industrie de demain, un véritable potentiel Atelier exposant HBM
Frédéric KIHM, Product Manager, PRENSCIA (Conférence en anglais)

 23 OCT

Salle 2

10h00

Contrôle, qualité et lutte anti contrefaçon" Animée par ARMIR / CAP'TRONIC

10h00

Panorama général de la lutte anti-contrefaçon
David SAUSSINAN, Responsable juridique et affaires publiques, UNIFAB

10h45

Analyse de contrefaçon pharmaceutiques par technologie THz
Bernard FISCHER, ISL

 14h15

Analyse vidéo des marques de sécurité
Romain LE BLOA, FOSTER & FREEMAN

 15h00

THID : une technique nouvelle THz pour l’identification des produits
Frédéric GARET, Maître de conférences, IMEP-LAHC

15h45

Vers la détection de contrefaçons par contrôle THz impulsionnel ultrarapide : imagerie couplée à la caractérisation de matériaux
Marco CAVALLARI, Chief Commercial Officer, TERATONICS

 23 OCT

Salle 3

9h30

Industry 4.0: Deep Tech pour le Smart Manufacturing Animée par OPTICS VALLEY
Ce séminaire passera en revue les problématiques actuelles des environnements de production et d’explorer les perspectives ouvertes par les Deep Tech à travers deux axes d’analyse : les matériaux et les procédés avancés de fabrication et respectivement et le contrôle qualité temps-réel en ligne de production. Accès gratuit
Programme détaillé ICI

14h00

Optimisation des périodicités d’étalonnage Animée par CFM
Quizz : Etalonnage et vérification : quelle différence
La gestion des équipements de mesure ne se résume pas à la maîtrise de fiches de vie qui retracent leur historique. Il convient de réfléchir plus largement en ayant une vision processus : étalonnage, vérification, incertitudes de mesure, surveillance de processus et bien sûr gestion dynamique des périodicités d’étalonnage.
Bernard LARQUIER, Directeur, BEA METROLOGIE

15h00

La métrologie au service de l´industrie du futur Atelier exposant FARO


MERCREDI 24 OCTOBRE

Dans la limite des places disponibles sur place. Nous vous conseillons de vous rendre devant la salle 15 minutes avant le début de la conférence.

24 OCT

Salle 1

9h30

L’IA dans l’embarqué : les grands principes et contraintes Animée par CAP’TRONIC
L’IA semble prendre de plus en plus de place au sein des systèmes embarqués. Ces techniques et approches doivent s’adapter aux contraintes imposées par l’embarqué et vice et versa. Au cours de cette conférences les participants pourront comprendre les grands principes de l’IA et les conditions de sa mise en œuvre dans l’embarqué.

9h30/10h00 L’intelligence artificielle pour les systèmes embarqués
Sandrine VARENNE - CEA

Nicolas VENTROUX, Chef de laboratoire « Calcul et Environnement de conception », CEA

10h00/10h10 Questions/réponses

10h10/11h00 L’IA dans l’embarqué : exemples d’application
Sabri BAYOUDH, CTO - ARCURE
Michel PAINDAVOINE, CTO – GST « Global Sensing Technologies »

11h00/11h10 Questions/réponses

11h10/11h40 L’impact de l’IA sur les architectures matérielles
Stéphane CORDOVA, VP, Embedded Business Unit, KALRAY

11h40/12h00 Questions/réponses

14h00

L’IA au service de l’humain, est-ce bien le cas ? Animée par Bernard MONNIER, MIM
Tout comme l’Innovation qui n’a de sens que si elle profite à une amélioration de la condition de vie des humains, l’IA devra suivre le même chemin pour qu’elle gagne sa légitimité.
Comment faire pour que l’IA ne soit pas une techno que l’on pousse sur des marchés sans attente mais plutôt qu’elle soit tirée par de vrais besoins sociétaux ? C’est là tout l’enjeu de l’IA qui doit être au service de l’humanité en non l’inverse.

Exposés généraux d’introduction :
Laurence DEVILLERS, Professeure en informatique appliquée aux sciences sociales, Université Paris-Sorbonne 4
Judith NICOGOSSIAN, Antropologue, JANSSEN HORIZON comité scientique, Neurosciences Grenoble Alpes
Stéphane RODER, THE AI BUILDERS

Exemple marquant d’un domaine d’intérêt : la Santé
Guy VALLANCIEN, Professeur d’Urologie à l’Université Paris Descartes, membre de l’Académie nationale de médecine et de l’Académie nationale de chirurgie

Christophe RICHARD, Santé, ATOS

Les aspects juridiques :
Nathalie PUIGSERVER Avocat Associé - Droit du Numérique & de la Data, P3B AVOCATS
Julia PETRELLUZZI Ph.D student Droit et intelligence artificielle

Des startup, PME impliquées :
Yoel TORDJMAN, Formation à l’IA en entreprise, DATASCIENTEST
Mounir HADDAD, Internet, DSI CONSULTING
Benoit RAPHAEL, Eleveur de robots, FLINT MEDIA
Pierre HEBRARD, Co-fondateur et CEO, PRICEMOOV
Julien de SANCTIS, Spoon.ai 
Jérôme BOURREAU, Président, ANAMNESE

 24 OCT

Salle 2

9h30

La photonique pour la mobilité autonome Animée par ENEKA CONSULTING
Les enjeux de la mobilité, le véhicule autonome dans la mobilité, les technologies photoniques pour le véhicule autonome (Capteurs, Lidars, LED, SSL, intégration électronique/ photonique, connectivité optique, etc), les forces françaises photonique / mobilité, les perspectives européennes.
Dr Eneka IDIART BARSOUM, ENEKA CONSULTING, ENEKA CONSULTING

10h30

La mutation automobile vers les véhicules autonomes a déjà
commencé, participez à la transition !
Animée par exposant NATIONAL INSTRUMENTS
À mesure que les véhicules progressent vers l'autonomie, les technologies qui y sont intégrées telles que l’électrification, la communication V2X, le positionnement GNSS ou les systèmes ADAS (systèmes d’aide à la conduite automobile) augmentent la complexité des composants à un rythme effréné. Les méthodes d'essai unitaires relevant du passé ne sont plus compatibles avec le rythme actuel de l'innovation qui nécessite la fusion de capteurs et une intelligence décisionnaire embarquée. Apprenez comment une approche ouverte reposant sur une plate-forme standard peut vous permettre de répondre à l’ensemble des étapes du cycle en V, comme la simulation sous HIL ou le rejeu de signaux physiques, afin d’avoir la maitrise de vos testeurs, pérenniser vos systèmes et accroitre la couverture de vos tests.
Emmanuel ROSET, Senior Field Marketing Manager for Automotive

11h30

Contrôle, qualité et lutte anti contrefaçon" Animée par ARMIR / CAP'TRONIC
Technologies optiques pour la détection de contrefaçons
Julien ROMANN, Responsable R&D, PHOTON LINES

12h00

L'évolution des technologies microélectroniques et des systèmes vers les objets connectés et l’IoT Animée par GIP CNFM
L'évolution des assemblages mettant en œuvre des "Systems-in-Package" qui déplacent les technologies des cartes et de l'électronique imprimés vers des technologies microélectroniques tridimensionnelles. Ces dernières vont certainement devenir le fer de lance des produits novateurs pour les entreprises. Il faudra maîtriser des technologies microélectronique, voire nanoélectroniques hybrides et complexes qui minimisent la consommation, l'encombrement spectral, et qui garantissent une forte fiabilité et la sécurité des systèmes et des signaux dans leurs domaines d'application !
Olivier BONNAUD, Directeur Général, GIP CNFM

 14h00

Quelles connaissances avoir avant d’utiliser des caméras de vision industrielles pour des applications embarquées ?
Animée par
exposant ALLIED VISION TECHNOLOGIES

Benoit OSTIZ, Sales manager France, Allied Vision Technologies

 15h00

Métrologie du Futur : comment dématérialiser la gestion de vos étalonnages ? Animée par exposant EUROTHERM AUTOMATION
Carlos MARTINS, Ingénieur Technico-commercial, EUROTHERM AUTOMATION

 24 OCT

Salle 3

9h30

Pourquoi estimer ses incertitudes de mesure ? Animée par le CFM
Quizz : incertitude de mesure : que dois-je savoir ?
Savoir évaluer les incertitudes de mesure est la clé indispensable pour garantir la fiabilité et la qualité des résultats de mesure et d’analyse. L’incertitude est le niveau de confiance accordée au résultat de mesure, l’estimation d’une incertitude implique la maîtrise d’analyse du processus de mesure et de ses facteurs d’influence.
François HENNEBELLE, Enseignant Chercheur, UNIVERSITE DE BOURGOGNE

10h30

Comment accompagner les sociétés d’optoélectronique grâce à la mécatronique Animée par ELYZEE CONSORTIUM
Les entreprises de l’optoélectroniques, spécialistes d’un domaine applicatif particulier, sont à la recherche de compétences multi-technologiques pour les accompagner dans la réalisation de leur projet. Une question se pose : comment interfacer ce savoir-faire industriel avec les problématiques particulières de ces entreprises ?
Yann HEZARD, Responsable du Développement Commercial, STAE (Membre Elyzée Consortium)
François ROSALA, Président, ADVEOTEC (Membre Elyzée Consortium)
Jean-François SOMME, Président Directeur Général, ACMEL Industrie (Membre Elyzée Consortium)
Benoit D’HUMIERE, Gérant, TEMATYS

11h30

IoT et objets connectés : comment les enjeux de cybersécurité vont impacter les futures conformités réglementaires incluant le marquage CE des équipements Animée par LCIE BUREAU VERITAS
Philippe, SISSOKO, Directeur, LCIE BUREAU VERITAS

14h00

Le reverse engineering pour l’industrie automobile Animée par le CFM
Quizz
: comment faire son choix en mesure 3D
Le reverse engineering ou rétro-ingénierie (en français) est l'activité qui consiste à étudier un objet pour en déterminer le fonctionnement interne ou la méthode de fabrication. On parle également de rétro-conception et dans le domaine du vivant de biomimétisme.
François HENNEBELLE, Enseignant Chercheur, UNIVERSITE DE BOURGOGNE



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